디지털시스템
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작성일 20-10-21 16:31본문
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디지털시스템에 대하여 조사하였습니다. …(drop)
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레포트/공학기술
디지털시스템에 대하여 조사하였습니다.
또, 이번 test(실험) 에서도 저번 test(실험) 에서 언급했었던, 불량 IC가 포함되어 있었다.디지털시스템_2 , 디지털시스템공학기술레포트 ,
다.
NOR 게이트의 경우는 OR 게이트 출력에 NOT 게이트를 붙이면 출력이 쉽게 나오는데, 친구들의 이해를 돕기 위해서는 그 test(실험) 도 했었으면 했고, 그와 같이 NAND 게이트의 test(실험) 도 AND 게이트에 NOT 게이트를 붙이는 형식으로, 간단히 해보았었으면 하는 아쉬움이 남았다.
test(실험) 중 어려운 점이나 의문점은 없었으나, 몇 가지 아쉬운 점을 들자면, 이번 test(실험) 은 드모르간의 요약를 이용한 회로설계를 바탕으로 했었던 test(실험) 으로, 회로설계대로 test(실험) 을 하기에는 아직 초보자인 친구들에겐 어려움이 있는 test(실험) 이였다.
test(실험) 은 두 번에 나눠서 시행을 했는데, 먼저는 NOR 게이트의 출력 값을 측정(測定) 하기 위해, NOT 게이트 2개를 이용한 AND 게이트로 test(실험) (그림 2-2 참조)을 했고, 두 번째는 NAND 게이트의 출력 값을 측정(測定) 하기 위해, NOT 게이트 2개를 이용한 OR 게이트로 test(실험) (그림 2-3 참조)을 했다.
이번 test(실험) 에서는 드모르간(De Morgan) 법칙을 간단한 기본 논리 게이트를 이용한 test(실험) 을 통해서 알아보았다.